Chroma 19056/19057系列耐壓測(cè)試分析儀
Chroma 19056/19057 耐壓分析儀系列為針對(duì)超 高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。系列機(jī)種 包含10kVac/12kVdc/20kVdc，輸出AC 20mA/ DC10mA?；窘?直流耐壓、電阻測(cè)試， 對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專 利設(shè)計(jì)OSC開短路偵測(cè) (Open Short Check)， 新增HVCC高壓接觸檢查(High Voltage Contact Check)，針對(duì)高能力之組件于高壓輸出時(shí)同 步進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。
Chroma 19056/19057具有GFI(接地失效中斷)設(shè) 計(jì)，當(dāng)異常接地電流(A2-A1)發(fā)生時(shí)能實(shí)時(shí)切斷輸 出，可保護(hù)作業(yè)員操作。
超高壓耐壓分析儀主要針對(duì)高壓光偶合器及高 壓繼電器、高壓開關(guān)、PV模塊等耐受力較 高之組件提供高壓的耐壓測(cè)試與分析。
電容性高壓組件進(jìn)行DC耐壓測(cè)試時(shí)必須充電與 放電，本系列具有快速充電功能有效降低測(cè)試 的時(shí)間，提高生產(chǎn)測(cè)試效率。
系列耐壓分析儀皆具有Flashover (ARC)偵測(cè) 功能。經(jīng)由設(shè)定啟始電壓、結(jié)束電壓、爬升步 序、次數(shù)及時(shí)間，進(jìn)行放電程度分析。放電程 度分析模式 (DLA)提供階段判斷方式，可設(shè)定 電氣閃絡(luò)檢測(cè) (Flashover, ARC)、崩潰檢測(cè) (Breakdown, high limit)。
當(dāng)測(cè)試中有不良出現(xiàn)時(shí)，19056/19057會(huì)依限制值顯示出耐壓強(qiáng)度 (withstanding voltage)，其分別代表電氣閃絡(luò)啟 始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)及崩潰電壓(BreakDown Voltage, BDV) 。在分析量測(cè)的 同時(shí)可以外掛示波器同步觀察波形。藉由這些 測(cè)試結(jié)果，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研 究，針對(duì)組件較弱的部份進(jìn)行改善。
